133 Petabytes Written: Long-Term microSD Card Durability Test Reveals Failure Rates
Technikenthusiast Matt Cole запустил масштабный долгосрочный тест microSD-карт, который к августу 2026 года охватил уже более 133 петабайт записанных данных. Эксперимент включает в себя 351 карту от 52 брендов, и результаты показывают, что долговечность памяти сильно зависит не только от заявленного класса, но и от конкретного производителя.
За три года эксперимента Cole проверил 177 карт на предмет полного отказа или появления критических ошибок. Обычные потребительские модели выдержали в среднем около 10 тысяч циклов записи, тогда как специально маркированные «High Endurance»-карты показали результат примерно в 40% выше — около 14 тысяч циклов. Лидерами по надежности стали PNY, Kingston и Delkin Devices; при этом из десяти протестированных карт PNY вышло из строя только одна.
Особое внимание исследователя привлекли карты Amazon Basics: они работали стабильно в течение 788 дней и прошли более 16 тысяч циклов. Однако Cole не включил их в список лучших, так как бренд может менять поставщиков чипов без предупреждения, что делает текущие результаты ненадежными для будущих покупок.
Самый впечатляющий результат показали промышленные карты: они выдержали в среднем 122 тысячи циклов. В то же время карт SanDisk оказались наименее надежными — из семи протестированных «High Endurance»-моделей отказались шесть, а из 28 обычных осталось всего пять работоспособными.
Гика
